High-Quality Image Formation by Nonlocal Means Applied to High-Angle Annular Dark-Field Scanning Transmission Electron Microscopy (HAADF–STEM)

New York, NY / Springer (2012) [Contribution to a book]

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy / ed. by Thomas Vogt ; Wolfgang Dahmen ; Peter Binev

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Binev, Peter
Blanco-Silva, Francisco
Blom, Douglas
Dahmen, Wolfgang
Lamby, Philipp

Weitere Autorinnen und Autoren

Sharpley, Robert C.
Vogt, Thomas

Identifikationsnummern

  • ISBN: 978-1-4614-2190-0
  • ISBN: 978-1-4614-2191-7