Compressed Sensing and Electron Microscopy

New York, NY / Springer (2012) [Buchbeitrag]

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy / ed. by Thomas Vogt ; Wolfgang Dahmen ; Peter Binev

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Binev, Peter
Dahmen, Wolfgang
DeVore, Ronald A.
Lamby, Philipp
Savu, Daniel

Weitere Autorinnen und Autoren

Sharpley, Robert C.

Identifikationsnummern

  • REPORT NUMBER: RWTH-CONV-110683