Compressed Sensing and Electron Microscopy

New York, NY / Springer (2012) [Contribution to a book]

Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy / ed. by Thomas Vogt ; Wolfgang Dahmen ; Peter Binev

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Binev, Peter
Dahmen, Wolfgang
DeVore, Ronald A.
Lamby, Philipp
Savu, Daniel

Weitere Autorinnen und Autoren

Sharpley, Robert C.

Identifikationsnummern

  • ISBN: 978-1-4614-2190-0
  • ISBN: 978-1-4614-2191-7