Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy

New York, NY / Springer (2012) [Book]


Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Vogt, Thomas
Dahmen, Wolfgang
Binev, Peter

Identifikationsnummern

  • ISBN: 978-1-4614-2190-0
  • ISBN: 978-1-4614-2191-7
  • ISSN: 1571-5744