High Precision STEM Imaging by Non-Rigid Alignment and Averaging of a Series of Short Exposures

New York, NY / Cambridge Univ. Press (2012) [Journal Article, Contribution to a conference proceedings, Abstract]

Microscopy and microanalysis
Band: 18
Ausgabe: S1
Seite(n): 300-301

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Berkels, Benjamin
Yankovich, Andrew B.
Shi, F.
Voyles, Paul M.
Dahmen, Wolfgang

Weitere Autorinnen und Autoren

Sharpley, Robert C.
Binev, Peter

Identifikationsnummern

  • ISSN: 1431-9276
  • ISSN: 1435-8115