High-precision scanning transmission electron microscopy at coarse pixel sampling for reduced electron dose

s.l.] (2015) [Journal Article]

Advanced Structural and Chemical Imaging
Band: 1
Ausgabe: 1
Seite(n): 2, 5 S.

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Yankovich, Andrew B.
Berkels, Benjamin
Dahmen, Wolfgang
Binev, Peter
Voyles, Paul M.

Identifikationsnummern