Poisson noise removal from high-resolution STEM images based on periodic block matching

Cham / Springer International Publishing AG (2015) [Journal Article]

Advanced Structural and Chemical Imaging
Band: 1
Ausgabe: 1
Seite(n): 3, 19 S.

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Mevenkamp, Niklas
Binev, Peter
Dahmen, Wolfgang
Voyles, Paul M.
Yankovich, Andrew B.

Weitere Autorinnen und Autoren

Berkels, Benjamin

Identifikationsnummern