Measuring Surface Atom Bond Length Contraction in Au and Pt Nanoparticles Using High-Precision STEM Imaging

Yankovich, Andrew B.; Berkels, Benjamin; Dahmen, Wolfgang; Sharpley, Robert C.; Binev, Peter; Voyles, Paul M.

New York, NY / Cambridge Univ. Press (2013) [Abstract, Beitrag zu einem Tagungsband, Fachzeitschriftenartikel]

Microscopy and microanalysis
Band: 19
Ausgabe: Suppl. 2
Seite(n): 1688-1689

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