Joint Denoising and Distortion Correction for Atomic Column Detection in Scanning Transmission Electron Microscopy Images
New York, NY / Cambridge University Press (2017) [Beitrag zu einem Tagungsband, Fachzeitschriftenartikel]
Microscopy and microanalysis
Band: 23
Ausgabe: S1
Seite(n): 164-165
Autorinnen und Autoren
Autorinnen und Autoren
Zhang, Chenyu
Berkels, Benjamin
Wirth, Benedikt
Voyles, Paul M.
Identifikationsnummern
- DOI: 10.1017/S1431927617001507
- REPORT NUMBER: RWTH-2018-222518