Thin-film-growth models: roughness and correlation functions
Blömker, Dirk; Gugg, Christoph; Raible, Martin
New York, NY : Univ. Press (2002)
Fachzeitschriftenartikel
In: European journal of applied mathematics
Band: 13
Seite(n)/Artikel-Nr.: 385-402
Identifikationsnummern
- DOI: 10.1017/S0956792502004886
- RWTH PUBLICATIONS: RWTH-CONV-068952