Glaz, Joseph ; Naus, Joseph ; Wallenstein, Sylvan: Scan statistics / Joseph Glaz ; Joseph Naus ; Sylvan Wallenstein. - New York ; Berlin ; Heidelberg ; Barcelona ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Singapore ; Tokyo, 2001

Berlin ; Heidelberg / Springer (2001) [Fachzeitschriftenartikel]

Metrika
Band: 57
Seite(n): 313-314

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Cramer, Erhard

Identifikationsnummern

  • REPORT NUMBER: RWTH-CONV-027994