Glaz, Joseph ; Naus, Joseph ; Wallenstein, Sylvan: Scan statistics / Joseph Glaz ; Joseph Naus ; Sylvan Wallenstein. - New York ; Berlin ; Heidelberg ; Barcelona ; Hong Kong ; London ; Milan ; Paris ; Singapore ; Tokyo, 2001

Cramer, Erhard

Berlin ; Heidelberg : Springer (2001)
Fachzeitschriftenartikel

In: Metrika
Band: 57
Seite(n)/Artikel-Nr.: 313-314

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