Compressed Sensing and Electron Microscopy
New York, NY / Springer (2012) [Buchbeitrag]
Modeling Nanoscale Imaging in Electron Microscopy / ed. by Thomas Vogt ; Wolfgang Dahmen ; Peter Binev
Seite(n): 73-126
Autorinnen und Autoren
Ausgewählte Autorinnen und Autoren
Binev, Peter
Dahmen, Wolfgang
DeVore, Ronald A.
Lamby, Philipp
Savu, Daniel
Weitere Autorinnen und Autoren
Sharpley, Robert C.
Identifikationsnummern
- REPORT NUMBER: RWTH-CONV-110683