High Precision STEM Imaging by Non-Rigid Alignment and Averaging of a Series of Short Exposures

Berkels, Benjamin; Yankovich, Andrew B.; Shi, F.; Voyles, Paul M.; Dahmen, Wolfgang; Sharpley, Robert C.; Binev, Peter

New York, NY / Cambridge Univ. Press (2012) [Abstract, Beitrag zu einem Tagungsband, Fachzeitschriftenartikel]

Microscopy and microanalysis
Band: 18
Ausgabe: S1
Seite(n): 300-301

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