Measuring Surface Atom Bond Length Contraction in Au and Pt Nanoparticles Using High-Precision STEM Imaging

Yankovich, Andrew B.; Berkels, Benjamin; Dahmen, Wolfgang; Sharpley, Robert C.; Binev, Peter; Voyles, Paul M.

New York, NY : Cambridge Univ. Press (2013)
Abstract, Beitrag zu einem Tagungsband, Fachzeitschriftenartikel (Extended abstract)

In: Microscopy and microanalysis
Band: 19
Heft: Suppl. 2
Seite(n)/Artikel-Nr.: 1688-1689

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