Measuring Surface Atom Bond Length Contraction in Au and Pt Nanoparticles Using High-Precision STEM Imaging

New York, NY / Cambridge Univ. Press (2013) [Abstract, Beitrag zu einem Tagungsband, Fachzeitschriftenartikel]

Microscopy and microanalysis
Band: 19
Ausgabe: Suppl. 2
Seite(n): 1688-1689

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

Yankovich, Andrew B.
Berkels, Benjamin
Dahmen, Wolfgang
Sharpley, Robert C.
Binev, Peter

Weitere Autorinnen und Autoren

Voyles, Paul M.

Identifikationsnummern

Quellen