Denoising Electron-energy Loss Data Using Non-local Means Filters

Mevenkamp, Niklas; Berkels, Benjamin; Duchamp, Martial

New York, NY / Cambridge University Press (2017) [Beitrag zu einem Tagungsband, Fachzeitschriftenartikel]

Microscopy and Microanalysis
Band: 23
Ausgabe: S1
Seite(n): 106-107

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