Denoising Electron-energy Loss Data Using Non-local Means Filters
Mevenkamp, Niklas; Berkels, Benjamin; Duchamp, Martial
New York, NY : Cambridge University Press (2017)
Beitrag zu einem Tagungsband, Fachzeitschriftenartikel
In: Microscopy and Microanalysis
Band: 23
Heft: S1
Seite(n)/Artikel-Nr.: 106-107
Einrichtungen
- Aachen Institute for Advanced Study in Computational Engineering Science [080003]
- Fachgruppe Mathematik [110000]
- Juniorprofessur für Mathematische Bild- und Signalverarbeitung [112430]
Identifikationsnummern
- DOI: 10.1017/S1431927617001210
- RWTH PUBLICATIONS: RWTH-2018-222508