Measuring the Cation and Oxygen Atomic Column Displacement at Picometer Precision

Wang, Yi; Jones, Lewys; Berkels, Benjamin; Sigle, Wilfried; van Aken, Peter A.

New York, NY : Cambridge University Press (2017)
Beitrag zu einem Tagungsband, Fachzeitschriftenartikel

In: Microscopy and microanalysis
Band: 23
Heft: Suppl 1
Seite(n)/Artikel-Nr.: 1612-1613

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