Measuring the Cation and Oxygen Atomic Column Displacement at Picometer Precision

Wang, Yi; Jones, Lewys; Berkels, Benjamin; Sigle, Wilfried; van Aken, Peter A.

New York, NY : Cambridge University Press (2017)
Beitrag zu einem Tagungsband, Fachzeitschriftenartikel

In: Microscopy and microanalysis
Band: 23
Heft: S1
Seite(n)/Artikel-Nr.: 1612-1613

Einrichtungen

• Aachen Institute for Advanced Study in Computational Engineering Science [080003]
• Fachgruppe Mathematik [110000]
• Juniorprofessur für Mathematische Bild- und Signalverarbeitung [112430]