Measuring the Cation and Oxygen Atomic Column Displacement at Picometer Precision

Wang, Yi; Jones, Lewys; Berkels, Benjamin; Sigle, Wilfried; van Aken, Peter A.

New York, NY / Cambridge University Press (2017) [Beitrag zu einem Tagungsband, Fachzeitschriftenartikel]

Microscopy and microanalysis
Band: 23
Ausgabe: Suppl 1
Seite(n): 1612-1613

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