Importance Sampling for Determining SRAM Yield and Optimization with Statistical Constraint

Berlin, Heidelberg / Springer Berlin Heidelberg (2011, 2012) [Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband]

Scientific Computing in Electrical Engineering SCEE 2010 / edited by Bastiaan Michielsen, Jean-René Poirier
Seite(n): 39-47

Autorinnen und Autoren

Ausgewählte Autorinnen und Autoren

ter Maten, E. J. W.
Wittich, Olaf
Di Bucchianico, A.
Doorn, T. S.
Beelen, T. G. J.

Identifikationsnummern