Multilevel double loop Monte Carlo and stochastic collocation methods with importance sampling for Bayesian optimal experimental design

Chichester [u.a.] / Wiley (2020) [Fachzeitschriftenartikel]

International journal for numerical methods in engineering
Seite(n): 1-22

Autorinnen und Autoren

Autorinnen und Autoren

Beck, Joakim
Mansour Dia, Ben
Espath, Luis
Tempone, Raul

Identifikationsnummern