Joint Denoising and Distortion Correction for Atomic Column Detection in Scanning Transmission Electron Microscopy Images

Zhang, Chenyu; Berkels, Benjamin; Wirth, Benedikt; Voyles, Paul M.

New York, NY : Cambridge University Press (2017)
Fachzeitschriftenartikel

In: Microscopy and microanalysis
Band: 23
Heft: S1
Seite(n)/Artikel-Nr.: 164-165

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