Total Deep Variation for Noisy Exit Wave Reconstruction in Transmission Electron Microscopy

Pinetz, Thomas (Corresponding author); Kobler, Erich; Doberstein, Christian; Berkels, Benjamin; Effland, Alexander

Cham : Springer International Publishing (2021)
Buchbeitrag, Beitrag zu einem Tagungsband

In: Scale Space and Variational Methods in Computer Vision : 8th International Conference, SSVM 2021, Virtual Event, May 16-20, 2021, Proceedings / edited by Abderrahim Elmoataz, Jalal Fadili, Yvain Quéau, Julien Rabin, Loïc Simon
Seite(n)/Artikel-Nr.: 491-502

Einrichtungen

• Aachen Institute for Advanced Study in Computational Engineering Science [080003]
• Fachgruppe Mathematik [110000]
• Lehrstuhl für Angewandte Mathematik und Institut für Geometrie und Praktische Mathematik [111410]
• Juniorprofessur für Mathematische Bild- und Signalverarbeitung [112430]